绝缘电阻较低，泄漏电流较大而不合格的试品，为何在进行介质损耗因数tgδ测量时不一定很大，有时还可能合格呢?

　　绝缘电阻较低，泄漏电流较大而不合格的试品，一般表明在被试的并联等值电路中某部分绝缘较低。并联等值电路的介质损耗因数tg8测量时，其值介于并联电路中最大与最小介质损支路的值之间，且主要反映体积较大或电容较大部分。只有当绝缘较低部分的体积(或电容)很大时，实测tgδ值才较大并反映出不合格值。当绝缘较低部分体积很小时，测得整体(全部并联支路)的tgδ值不一定很大，且有可能小于《规程》规定值。例如，变压器高压对中、低压及对地绝缘很低，此电路包括绕组间、绕组对地和高压套管等并联支路。当套管绝缘很低时，往往就不能从这一整体介质损耗因数测量值中反映出来，所以必须进行单套管试验。